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包括可整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟（SSD）的平台解決方案；符合下一代行動協議的記憶體測試器；可評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台、高速記憶體測試解決方案、適合奈米技術應用的量測解決方案，以及用於光罩和晶圓的掃描式電子顯微鏡（SEM），以及電子束光刻系統等。
愛德萬也深耕奈米和太赫茲（terahertz）技術發展，近日推出有關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像和分析工具。（編輯：楊玫寧）1080117
