韓國半導體展 愛德萬秀5G測試方案

中央社 科技 / NOWnews
中央社-2019-01-17 16:55:00
(中央社記者鍾榮峰台北17日電)韓國SEMICON國際半導體展將於下週舉辦,測試設備大廠愛德萬(Advantest)預計展示5G半導體測試方案。

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韓國SEMICON國際半導體展(SEMICON Korea)將在23到25日於首爾開展,愛德萬測試將展示多種IC測試及晶圓檢測解決方案,因應全球5G通訊市場需求。

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包括可整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的平台解決方案;符合下一代行動協議的記憶體測試器;可評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台、高速記憶體測試解決方案、適合奈米技術應用的量測解決方案,以及用於光罩和晶圓的掃描式電子顯微鏡(SEM),以及電子束光刻系統等。

愛德萬也深耕奈米和太赫茲(terahertz)技術發展,近日推出有關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像和分析工具。(編輯:楊玫寧)1080117

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