台廠採購訴訟廠商光損設備？汎銓：了解事實、不排除採取必要措施

台廠積極布局矽光子檢測市場，但有市場消息傳出，有台廠採購的相關光損檢測設備可能涉及遭汎銓提起專利侵權訴訟之廠商，對此，汎銓今（18）日表示，已責成法務團隊與外部律師進一步了解相關事實，不排除採取任何維護公司智慧財產權及股東權益之必要措施。

今年3月已提專利侵權訴訟　維護自身研發成果與智財權價值

汎銓指出，公司於今年3月已正式對涉及侵權廠商提起專利侵權訴訟，目前案件已進入司法程序，相關事實與法律責任仍有待法院審理認定。公司尊重司法程序，現階段不對個案內容進行評論，惟將持續關注相關產品、設備及供應鏈流向，並依法維護自身研發成果與智慧財產權價值。

汎銓提到，公司長期深耕半導體先進製程材料分析、AI晶片檢測及矽光子檢測等高階技術服務領域，業務與營運範圍涵蓋台灣、美國、日本等全球重要半導體與AI產業市場，並已正式取得台灣、美國、日本及韓國之「光損偵測裝置」發明專利，相關技術可應用於矽光子、CPO及高速光通訊元件開發與量產檢測，主要功能在於快速定位光訊號傳輸過程中的漏光與損耗位置，協助客戶提升研發效率及量產良率。

多家台廠投入光損等領域　光損檢測已成光通訊產業關鍵

而近期市場上多家業者相繼投入光損定位與光路檢測領域，從產業發展角度觀察，汎銓認為，反而證明矽光子與CPO產業對光損定位技術具有高度需求，也顯示光損檢測已逐漸成為未來光通訊產業不可或缺的重要環節。

汎銓強調，看好隨著AI資料中心、高速光通訊及CPO技術快速發展，光損定位與漏光分析將成為未來產業的重要基礎技術，將持續深化專利布局與技術領先優勢，掌握下一波矽光子產業成長契機。